Electroactivity of Al in Al-Doped ZnO Films

Ievtushenko, A.I. та Dranchuk, M.V. та Karpyna, V.A. та Литвин, Оксана Степанівна та Tkach, S.V. та Baturin, V.A. та Karpenko, O.Y. та Lashkarev, G.V. (2017) Electroactivity of Al in Al-Doped ZnO Films In: XVІ Міжнародна конференція з фізики і технології тонких плівок і наносистем, МКФТТПН-XVІ, м. Івано-Франківськ, Україна.

[thumbnail of O_Lytvyn_ICPTFN-2017_FITU.pdf]
Перегляд
Текст
O_Lytvyn_ICPTFN-2017_FITU.pdf

Download (727kB) | Перегляд
Офіційне посилання: http://www.pu.if.ua/inst/phys_che/start/conference...

Анотація

The report devoted to study the influence of Al content on its electroactivity in ZnO thin films. Al-doped ZnO thin films were deposited by growth method on silicon substrates. The set of ZnO:Al films with concentrations of Al in the range from 0.2 to 1.2 % were grown. For samples characterization, XRD, EDX analysis, atomic force microscopy and transmittance measurements were used. The temperature dependences of electrical resistivity and Hall coefficient were investigated.

Тип елементу : Доповідь на конференції чи семінарі (Тези)
Ключові слова: ZnO films; Al-doped; magnetron sputtering; Atomic force microscopy; XRD; EDX
Типологія: Це архівна тематика Київського університету імені Бориса Грінченка > Наукові конференції > Міжнародні
Підрозділи: Це архівні підрозділи Київського університету імені Бориса Грінченка > Кафедра комп'ютерних наук і математики
Користувач, що депонує: Оксана Степанівна Литвин
Дата внесення: 25 Вер 2017 10:27
Останні зміни: 16 Квіт 2018 11:30
URI: https://elibrary.kubg.edu.ua/id/eprint/20208

Actions (login required)

Перегляд елементу Перегляд елементу