Сопинский, Н.В. and Хомченко, В.С. and Литвин, Оксана Степанівна and Савин, А.К. and Семененко, Н.А. and Евтух, А.А. and Соболевский, В.П. and Ольховик, Г.П. (2011) Properties of low-refractive-index films obtained by the close-spaced vapor transport technique under the sublimation of graphite in a quasi-closed volume Журнал технической физики, 81 (11). pp. 125-129. ISSN 0044-4642
Preview |
Text
N_Sopinskii_V_Khomchenko_O_Lytvyn_etc_ZhTF_2011_v81_IS.pdf Download (318kB) | Preview |
Abstract
The properties of low-refractive-index carbon films obtained by close-spaced vapor transport at graphite sublimation are studied. The optical properties of the films are investigated by monochromatic multiple-angle ellipsometry, and their morphology is examined by AFM. It is found that the films have a columnar structure with a background surface roughness of about 1 nm. In addition, the surface of the film contains islands up to 50 nm in height with a footprint of ≈200 nm. A low-refractive-index carbon film deposited by close-spaced vapor transport on silicon tips is found to decrease the field emission threshold and drastically raise the current.
| Item Type: | Article |
|---|---|
| Uncontrolled Keywords: | low-refractive-index carbon films; multiple-angle ellipsometry; atomic force microscopy |
| Subjects: | Це архівна тематика Київського університету імені Бориса Грінченка > Статті у журналах > Наукові (входять до інших наукометричних баз, крім перерахованих, мають ISSN, DOI, індекс цитування) |
| Divisions: | Це архівні підрозділи Київського університету імені Бориса Грінченка > Кафедра інформатики |
| Depositing User: | Оксана Степанівна Литвин |
| Date Deposited: | 30 Sep 2013 13:57 |
| Last Modified: | 20 Nov 2015 13:47 |
| URI: | https://elibrary.kubg.edu.ua/id/eprint/2238 |
Actions (login required)
 |
View Item |